XYZ inverse Scanningtische mit Piezo Z-Achse
Die Scanningtische der PZ-Serie bieten neben der hochpräzisen XY-Positionierung eine zusätzliche ultraschnelle Piezo-Z-Achsen Verstellung.
Durch die Höhenbewegung der Probe und nicht eines einzelnen Objektivs können alle Objektive verwendet werden. Das Piezo-Oberteil hat einen Standardausbruch von 160 x 110 mm und kann somit eine Vielzahl von Einlegerahmen für die unterschiedlichsten Anwendungen aufnehmen.
Der PZ-2000 Scanningtisch wurde speziell für Anwendungen mit hohen Anforderungen an Wiederholgenauigkeit und Auflösung in der XYZ Achse designed.
Der extrem flache PZ-2000FT Scanningtisch wurde speziell für Anwendungen mit hohen Anforderungen an Wiederholgenauigkeit und Auflösung in der XYZ Achse designed.
Der US-2000 Flat Top XYZ-Tisch wurde speziell entwickelt, um eine ultrastabile, hochauflösende und hochgradig wiederholbare Möglichkeit zur Steuerung der X- und Y-Position des Mikroskoptisches für hochauflösende Mikroskopieanwendungen zu bieten.
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